SmartRay推出新型双头传感器，实现无阴影扫描和最佳可见性

作为质量检测和尺寸测量的领先3D传感器制造商，SmartRay开发出一款全新的解决方案，旨在解决3D扫描应用中的阴影效应问题。

双头ECCO 95+传感器使用 SmartRay行业领先的相机，确保检测扫描对象的所有目标区域。

现有的单头传感器由于激光三角法的原理问题，会遇到下列情况：

1.凸起的表面由于突起物造成的激光无法反射进传感器内部的感光芯片造成的阴影区；

突起的A物体由于遮挡，导致B面有阴影区而无法成像

2.较深的孔遮挡激光无法反射进传感器内部的感光芯片造成的阴影区；

深孔区域由于遮挡，导致有阴影区而无法成像

3.某些料件出现全反射角激光无法反射进传感器内部的感光芯片造成的阴影区；

产品倒角边缘由于有全反射角，激光无法反射进传感器内部

4.由于单传感器数据密度不够，数据点不够导致的测量数据不稳定，双头能同时生成2倍密度数据，提升数据密度，提升测量精度。

单传感器数据密度不够，双头可以同时生成双倍密度的数据

这可能会引起3D数据点丢失，降低准确性，并导致无法检测到样本的某些部位。

通过在第一台相机的对称角度添加另一台相机，ECCO 95+双头传感器可以确保整个目标区域的可见性，不会遗漏任何数据点。

产品适用于各种可能受到阴影效应影响的应用，尤其是汽车零部件、半导体和消费电子产品。

双头ECCO 95+系列传感器共提供三种型号，每种型号提供不同的视野范围、测量范围和最佳工作距离，为各种应用提供适合的解决方案。双头ECCO 95.010+传感器的视野范围为11毫米（中场），双头ECCO 95.040+传感器的视野范围为36毫米（中场），双头ECCO 95.200+传感器的视野范围为190毫米（中场）。

双头ECCO 95.010+传感器和双头ECCO 95.040+传感器使用450nm波长的蓝色激光，双头ECCO 95.200+传感器使用 660nm波长的红色激光。

跟所有ECCO 95+ 3D传感器一样，本系列传感器提供快速、超高分辨率的扫描和卓越的图像质量，适用于解决各种棘手的质量检测和尺寸测量应用。

SmartRay ECCO传感器事业部经理Clare Rathsack表示： “我们全新的ECCO 95+双头传感器为最终用户提供创新的解决方案，用于解决可能出现阴影的3D扫描应用。此系列传感器可确保提供完整的测量数据，并在质量检测应用中实现目标区域的全面覆盖。凭借高速、精确的扫描功能，我们的ECCO 95+传感器可帮助客户维持生产效率和产品质量。”