STEC隶属美国INDEV 集团，专业制造各种在线测厚仪,拥有X射线，β射线和T赫兹等多种厚度传感器；T赫兹传感器采用特用的复式高频率波扫描薄膜，可以测出复合薄膜中每层材料的厚度。如复合薄膜中PP，PE，EVOH，EVA，PVDC，PA等树脂层的厚度，非常适合多层共挤复合薄膜生产线上使用。我们凭借产品的卓越品质在业界树立了良好的声誉。我们期望有机会向您展示我们的产品的确物有所值。