安优测携多款精密检测产品亮相,邀您共赴2026中国国际工业博览会!
2026-10-08 13:41 来源:安优测
2026中国国际工业博览会
安优测工业传感器将携多款高精度工业检测产品亮相2026上海工博会,覆盖微观观察、精密测量、在线检测、工业识别等多种应用场景。
从光模块、点胶、半导体到汽车电子,安优测持续深耕工业检测领域,为不同应用场景提供多元化、高精度的检测方案。
聚焦多行业应用,打造精密检测解决方案多行业覆盖,多场景应用,多种检测技术,安优测期待与您现场交流。
展会信息
展会名称:2026中国国际工业博览会
展会地点:国家会展中心(上海)
展会时间:2026年10月12-16日
展位号:6.1H-C122
亮点展品抢先看
本次展会,安优测将携核心产品矩阵亮相:
点白光干涉仪
半导体、光模块、PCB 等高端精密元器件开展纳米级无损形貌与薄膜厚度检测,适配产品抽检及品质管控。
- 重复性可达纳米级,满足先进制程检测要求
- 支持多层膜厚度及光学常数测量
- 不影响样品表面,保护高价值晶圆
- 测量速度快0.1s以内就可以测量一个数据,适合产线在线检测与快速抽检
AI智能工业读码器
适配光电半导体、新能源、精密电子组装智能制造产线,无惧反光污渍干扰,实现元器件全流程追溯。
- AI解码、一键示教、即插即用
- 支持多种工业码制识别
- 多种光源配置,适应复杂场景
- 工业级接口丰富,集成方便
点光谱共焦传感器
可集成自动化产线,实现微米级高精度在线检测。
- 支持透明、高反光、多层、曲面及复杂表面材料检测
- 集3D形貌、3D多层扫描、2D强度成像于一体,实现三合一成像
- 高精度防震运动平台,配备真空吸附平台,保证稳定测量
线光谱共焦传感器
赋能半导体封测、光学零部件批量检测,海量测点高速输出,完美适配高速产线检测场景。
- 波长精细可分,测量精度高
- 不惧光强、电磁、浪涌干扰
- 镜头无热源,温漂小,测量稳定
- 体积紧凑,易于产线集成
超景深显微镜
排查光芯片异物、键合形貌、微小沟槽瑕疵,解决低对比度样品成像难题,赋能光电元器件精密质检。
- 集观察、拍摄、测量、3D成像于一体
- 支持最大120000×120000像素超高分辨率图像拼接
- 内置丰富二维、三维测量功能
3D线激光传感器
用于半导体、3C 电子、新能源微小零部件在线 3D 检测,完成轮廓尺寸、外观缺陷、装配检测,适配自动化产线,保障批量生产质量管控。
- 出厂前微米级预校准
- X方向分辨率至8μm
- 速度高10kHz
- 内置测量工具,无需任何编程
现场活动
欢迎各位莅临安优测展台,参与现场幸运抽奖赢精美礼品。
本次展会,我们将提供现场设备演示、定制检测方案对接服务,诚邀各位行业伙伴莅临交流,共探智能制造新机遇,共启产业高质量发展新征程!