登录

美国MEAS传感器将参加2008中国汽车测试及质量监控博览会

2008-08-19 14:15 来源:仪器仪表信息网

    美国MEAS传感器集团将参加于2008年9月17日至9月19日在上海光大会展中心举办的2008中国汽车测试及质量监控博览会。 

    同时,于9月18日下午两点半在上海光大会展中心三楼举办主题为“MEAS加速度传感器技术在汽车碰撞测试领域中的应用”研讨会。届时,我公司中、美技术专家将与各位业内专家来宾欢聚一堂,共同研讨中国汽车碰撞测试技术的发展。主要议题包括:

  1.  微阻尼加速度计在挡风玻璃碰撞测试中应用;
  2. 硅MEMS技术在汽车安全加速度计方面的应用;
  3. 世界前沿的汽车安全产品介绍 。

相关新闻

编辑精选