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主题:富士模块外壳绝缘变的好差
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浪子阿新
如题,拆了几台十几年以上的安川G5变频器,模块富士2MBU75S-120,带线拆机,排除变频器炸过的机率,用表一测心凉半节,C1-C2电阻只有0.3M,因模块有好几个,随拿一个拆解,拆除上盖后一量2m以上,盖上上盖又变成0.3,刚好有一变频在修,冒着放炮的心装上一个试机,嘿,还能用。按理说这模块外壳应该绝缘体,为什么时间旧了绝缘变这么差,是因为高温?对比年份近一点的阻值小太多,手头头有英菲凌的对比,有的朋友帮对比下,
20-07-17 09:24
1楼
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yuanyuesheng
是不是测量方式不同的差异,造成C-E导通电阻的不同?
反复将G极放电-测C-E,充电-测C-E。。。多试几次。应该有不同结论。
20-07-17 15:38
2楼
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高雅的雅
这个模块主回路要用绝缘表测量,万用表不准确的
20-07-19 18:26
3楼
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1326893350
本人习惯使用指针式万用表10K挡测量IGBT模块通和断,通时表针稳定不动!断时表针回到无穷大!有的模块断时表针回不到位有一点漏电现象,这说明模块老化了,可以使用,然后使用电容表触发极电容量。楼主测量3M欧姆,最好还是别使用!本人只是建议!
20-07-19 20:01
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