登录
首页 仪器仪表 NI自动化测试
回帖 发帖
正文

主题:【图说】PXI技术和应用论坛(PXI TAC)

点击:695 回复:6

PXI TAC 2017 第十四届PXI技术和应用论坛昨天在深圳华侨城洲际大酒店,有去现场的小伙伴,举个手~~
随着智能设备的大爆发,智能设备的复杂性和集成度提升,面对智能设备,NI应用PXI平台化的方法打造面向未来的智能测试系统,在PXI TAC中在物联网、消费电子、射频通信、汽车电子和国防科研等领域,将更领先更高质量的产品和应用案例呈现给广大客户。
图片较多~~
Steve Warntjes, NI 研发副总裁简短演讲▼
附件 nEO_IMG_DSC03466.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03472.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03474.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03491.jpg
NI技术市场工程师演讲及部分PPT展示▼
附件 nEO_IMG_DSC03513.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03521.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03525.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03528.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03532.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03539.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03547.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03548.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03550.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03571.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03576.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03579.jpg
展品展示区概况▼
附件 nEO_IMG_DSC03422.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03433.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03437.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03439.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03443.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03600.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03601.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03604.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03611.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03616.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03619.jpg
最后修改:2017/5/12 15:32:08
17-05-12 15:30
附件 nEO_IMG_DSC03622.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03623.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03624.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03627.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03638.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03641.jpg
附件 nEO_IMG_DSC03644.jpg
17-05-12 15:31
人气好旺呀,这种活动要怎么才能参加表情
17-05-12 17:32
NI的东西不错啊
17-05-12 19:41
太远啊  没办法去
17-05-13 15:28
PXI技术,基于PC技术,一种检测(控制)技术,开放式工业标准,模块式仪器平台
——搜索后,才了解到这么一点点。
17-05-14 06:01
PXI平台化智能测试
17-12-10 21:39

工控新闻

更多新闻资讯