随着智能设备的大爆发,智能设备的复杂性和集成度提升,面对智能设备,NI应用PXI平台化的方法打造面向未来的智能测试系统,在PXI TAC中在物联网、消费电子、射频通信、汽车电子和国防科研等领域,将更领先更高质量的产品和应用案例呈现给广大客户。
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Steve Warntjes, NI 研发副总裁简短演讲▼ NI技术市场工程师演讲及部分PPT展示▼
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最后修改:2017/5/12 15:32:08
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