针对研究超级电容器的大电流充电性能的目的，设计了一种基于单片机控制的恒流测试系统。笔者采用大功率MOSFET设计的恒流源以及对应用效果进行了分析。通过对实际超级电容器进行测试，结果表明：该电路具有结构简单，电流稳定性强，并且可应用于大电流的场合下。