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主题:为什么NPT(NonPunchThrough)技术,使IGBT减少开关损耗对温度的依存性
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lywe2003
请教:
有资料显示
NPT(NonPunchThrough)技术,使IGBT载流子寿命得到控制,从而减少开关损耗对温度的依存性。
依存性有多大?为什么有依存性?
可减少长期使用过程中的开关损耗。
怎样减少?
06-06-06 16:02
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