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主题:NI SMU - 电性能测试的最佳选择

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    源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流,专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。NI为自动化测试的领导者,透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器,为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。
    源测量单元(SMU)是实验室特性分析和自动化测试应用中,用于分析设备电流-电压(I-V)特性的主要仪器。 PXI SMU可为您的系统提供高功率、高精度且高速的源测量功能,助您解决各种应用需求。尤其是以下特点:
    *测量速度比台式SMU快50倍(高达1.8 MS/s)
    *在小巧的空间中提供四个通道
    *10 fA测量灵敏度
   热点推荐:
   NI源测量单元(SMU)和可编程电源资源包
   http://www.gkong.com/co/ni/download_view.asp?id=22801&cid=Paid_Display-70131000001RozYAAS-China-gkong
   电性能测试的最佳选择-NI SMU简介
   http://china.ni.com/smu-solutions?cid=Paid_Display-70131000001RozYAAS-China-gkong
   淘汰传统台式仪器 - PXI SMU 优惠方案
   https://lumen.ni.com/nicif/zhs/GB_CREQGRTRCHINASMU/content.xhtml?cid=Paid_Display-70131000001RozYAAS-China-gkong
   
附件 QQ截图1.jpg
   
附件 QQ截图2.jpg
   
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最后修改:2017/2/14 17:11:17
17-02-14 17:10

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