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主题:可控硅损坏问题探讨

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我们公司的防爆控制柜内部可控硅损坏率(击穿)较高,其实也有阻容吸收保护,用细导线跟可控硅连接,可控硅耐压也应该没问题。请老师们给予指点。
14-05-24 07:31
       散热情况呢?
14-05-24 07:48
有热敏电阻吗?高压低压?多少伏的软启动
14-05-24 07:54
可能是瞬间电流大引起击穿。
14-05-24 08:02
防爆的柜子,内部的温度散不出来吧?捂得太严实了。
14-05-24 10:46
可控硅损坏的原因一般就是过电压,过电流,还有过热。
14-05-24 11:02
电源多数为660V,煤矿用的多,我的感觉是是否跟阻容取值有关, 或是跟安装方式有关。
14-05-24 14:08
无热敏电阻,有压敏,负荷不大无软启。
14-05-24 14:14
应该还是阻容不匹配吧
14-05-24 21:39
是啊,其损坏不外乎过热、过流、过压。
过热,可能为选取额定电流参数偏小,或环境散热不佳(如散热片螺栓松动,透风不良等),造成热量积累而损坏。可以监测运行温度确认。
过流,其表现同于过热,可检测运行电流确认。过流与过热的损坏均有一个升温过程。
过电压损坏,表现过程突然。若其它模块无明显温升,可以判断损坏模块系为过电压击穿所致。
现在的供电环境恶化(电网谐波严重),有些器件质量低劣,应用时注意扩容应用。此外,加装输入交流电抗器(目的是抑制电网谐波),对避免经常性损坏,有一定的作用。
电压吸收网络的阻容不匹配,也有可能,但不好确定其准确数值。按标准计算得出的参数,似乎不能适应今天的电气环境了。
14-05-26 16:31

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