20GB/T2423.12-1997电工电子产品环境试验  第2部分： 试验方法  试验Fda： 宽频带随机振动 高再现性。

21.GB 2423.13-1997电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Fdb宽频带随机振动中再现性

22  GB/T 2423.14-1997        电工电子产品环境试验  第2部分： 试验方法  试验Fdc： 宽频带随机振动低再现性。

23  GB/T 2423.15-1995        电工电子产品环境试验  第二部分： 试验方法  试验Ga和导则： 稳态加速度  。
GBT 2423.15-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ga：和导则：稳态加速度

24  GB/T 2423.16-1999        电工电子产品环境试验  第2部分： 试验方法  试验J和导则： 长霉

24 GBT 2423.16-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉
GBT 2423.16-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉.part1
GBT 2423.16-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉.part2
GBT 2423.16-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉.part3

25  GB/T 2423.17-1993        电工电子产品基本环境试验规程  试验Ka： 盐雾试验方法 。
GBT 2423.17-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾

26  GB/T 2423.18-2000        电工电子产品环境试验  第2部分：试验  试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）

27  GB/T 2423.19-1981        电工电子产品基本环境试验规程  试验Kc： 接触点和连接件的二氧化硫试验方法。

28  GB/T 2423.20-1981        电工电子产品基本环境试验规程  试验Kd： 接触点和连接件的硫化氢试验方法。 29  GB/T 2423.21-1991        电工电子产品基本环境试验规程  试验 M： 低气压试验方法  。
30  GB/T 2423.22-1987        电工电子产品基本环境试验规程  试验N：温度变化试验方法   .