事情经过： 早上上班，发现系统不能启动，f004故障，检查发现U相快熔动作，空开跳闸。拆下来经过测量，判定U相可控硅有问题（交直流侧直通。MCC312-18：1，ak；2，k；3，a；一个是12通，一个是13通），其他几组拆除铜排测量，没有问题。更换MTC250-18两个个/台基元器件）。
更换两个可控硅后，检查没有问题，上电，显示有问题－f068，不能进行操作，可能是接线有问题，动了面板后可以了。
进行优化，p51＝25顺利通过，但是进行p51＝26的时候很不顺利，不停的出现不同的错误，f050（优化中断，代码21历次减弱范围太宽，并没有设置弱磁），f042（测速机故障，代码1、2，检查测速机没有问题，接线检查没有问题，更换极性也有1、2，感觉是随机的——同样的接线都会出现1、2故障值）；
当时感觉是不是测速反馈有问题，就准备作emf控制，优化的时候25可以通过，作26的时候就出现了可控硅爆了。
附损坏可控硅图片：
在重新更换MTC250-186个后重新开机，作优化p051＝25、26顺利通过，工作正常。
可能原因：爆炸的可控硅本身有问题，没有量出来？还是emf控制有问题？更换了1组是不是有问题？不清楚。
遗漏问题：原来设置的p830＝2已经被更改成0了。

看不到图片

是不是MTC250-18的引出脚与原MCC312不一样，第一次你只更换了两个，就易造成短路；而你更换6个以后，就不存在上述可能，故一切正常。？？？

一样的，完全一样，HUYIE，你能发图吗？

to 宝贝塌塌鼻:
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可控硅型号

可控硅侧面

可控硅解体了，中间是击穿的洞洞，和底板通了，

熏黑的控制板

装置